מבחן תדירות טאטא שנאי SFRA

סקירת מוצר

בוחן תדרים לניקוי טרנספורמר (Transformer Winding Deformation/Sweep Frequency) כולל מערכת מדידה-בדיוק גבוה המורכבת ממחשב נייד ומיקרו-בקר. הוא כולל מבנה קומפקטי ותפעול פשוט, המציע יכולות בדיקה וניתוח מקיפות. משתמשים יכולים להפעיל את המכשיר באופן עצמאי על ידי עיון במדריך ההוראות או לאחר הדרכה קצרה.

1. רכישת נתונים ובקרה משתמשים במיקרו-מעבד-במהירות גבוהה ומשולב מאוד.

2. התקשורת בין המחשב הנייד למכשיר משתמשת בממשק USB.

3. תקשורת בין המחשב הנייד למכשיר יכולה לנצל ממשק Bluetooth אלחוטי או ממשק WiFi אלחוטי (אביזר אופציונלי).

ממשק ה-WiFi האלחוטי מאפשר שימוש נוח יותר בטאבלטים ובסמארטפונים.

4. ליבת החומרה משתמשת בטכנולוגיית DDS-ספציפית דיגיטלית-גבוהה בתדרים (ארה"ב). בדיקה מאבחנת במדויק תקלות בפיתול כגון עיוות, בליטה, תזוזה, הטיה,-עיוות קצר במעגל-במעגלים וקיצורי מגע של שלב-ל-פאזה.

.

6. תוכנה-משרעת פלט אות מתכווננת עם שיא מקסימלי של ±10V.

7. המחשב מנתח אוטומטית את תוצאות הבדיקה ומפיק מסמכים אלקטרוניים (פורמט וורד).

8. מערכת מדידה כפולה התומכת במצבי סוויפ ליניארי ובמצבי סוויפ מפולחים, תואמת לשתי מתודולוגיות המדידה המקומיות הרווחות.

9. מאפייני התדר של משרעת- תואמים למפרטים טכניים לאומיים עבור בודקי מאפייני משרעת-.

10. מערכת אוטומטית לניתוח נתוני בדיקה.

1. התפלגות סוויפ ליניארית

טווח מדידת סוויפ: (10Hz) עד (10MHz) עם 40,000 נקודות סוויפ, רזולוציות של 0.25kHz, 0.5kHz ו-1kHz.

2. התפלגות מדידת סאטואציה מפולחת

טווח מדידת סוויפ: (0.5kHz) עד (1MHz), 2000 נקודות סוויפ;

(0.5kHz) עד (10kHz)

(10kHz) עד (100kHz)

(100kHz) עד (500kHz)

(500kHz) עד (1000kHz)

ציוד ליבה

היחידה הראשית של מנתח SFRA -1

מחשב נייד עם תוכנת SFRA -1

כבל תקשורת (USB/Ethernet) -1

פלט (מקור) כבל קואקסיאלי עם תפסי תנין -1

כבל קואקסיאלי קלט (מדידה) עם תפסי תנין -1

תפסי תנין-כבדים (חלפים) -4

כבל הארקה ייעודי (קצר, עבה) -1

בטיחות ואביזרים קריטיים

ערכת נעילה/תיוג (LOTO) -1 סט

הארקה ניידת וקצר-ערכת חיתוך -1 סט

בודק מתח / Megger -1

מצלמה/סמארטפון (לתמונות חיבור) -1

תגיות חמות:מנתח תגובת תדרים לטאטא שנאי, בודק עיוות מתפתל

תגיות פופולריות: בדיקת תדר לטאטא שנאים sfra, יצרני בדיקת תדר טאטא שנאים sfra, מפעל

1. טווח מדידת משרעת: (-120dB) עד (+20dB)

2. דיוק מדידת משרעת: 0.1dB

3. דיוק תדר הסריקה: 0.005%

4. עכבת כניסת אות: 1MΩ

5. עכבת מוצא אות: 50Ω

6. משרעת פלט אות: ±20V

7. חוזרות-נפוצה של בדיקות מצב: 99.9%

8. מידות המכשיר (LxWxH): 350x300x140 (מ"מ)

9. מידות מארז אלומיניום למכשיר (LxWxH): 390x310x340 (מ"מ)

10. משקל כולל: 13 ק"ג

11. טמפרטורת הפעלה: -10 מעלות עד +40 מעלות

טמפרטורת אחסון: -20 מעלות עד +70 מעלות

לחות יחסית:<90%, non-condensing